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教学设计

基于PLC的电子装备自动测试系统设计

2022-01-06 12:18:50教学设计
刘建梅章强摘要:现代武器装备正逐步向精密化、自动化、电子化方向发展。电子系统一旦失效,将对武器装备的

刘建梅 章强

摘 要:现代武器装备正逐步向精密化、自动化、电子化方向发展。电子系统一旦失效,将对武器装备的使用和战斗力的发挥产生严重影响。因此,有必要推广使用一套通用的自动测试系统,实现对电子设备的高效、自动检测,从而始终满足电子设备的需求。

关键词:PLC;电子装备;自动测试;系统设计

1 基于PLC的电子装备自动测试系统硬件设计

1.1气源处理装置设计

在基于PLC的电子设备自动测试系统中,PLC作为最基本的设备,是气源处理装置的主要组成部分。在某些特殊情况下,电子设备会产生冷凝液和杂质,严重影响测试过程的准确性。该气源处理装置可以去除电子设备中影响误差的物质,调节电子设备自动测试系统的恒定工作压力。过滤器的水位对气源装置的稳定性起着重要的作用。当水位超过标记的安全位置时,工人需要排放装置中的气体。为了保证设备的正常运行,定期对设备进行检查是非常重要的。

1.2物料检测传感器的设计

通过材料检测传感器装置,可以检测电子设备中的多种材料,并对电子设备中的组成材料进行识别和判断。以金属耐磨块为基础,很好地解决了电子设备自动测试系统中的材料混淆问题。基于PLC对物料检测传感器的反馈,进行物料检测操作。通过GPIB电缆传输电源后,形成高频振荡电路,产生交变电磁场。当金属材料吸收高频振动涡流时,会削弱自动测试产生的电信号,并掌握功率放大的时间,输出测试电子设备的电信号。根据这一原理,设计了材料检测传感器。

1.3电子设备中PLC装置的选择

在配备硬件设备的基础上,根据电子设备自动测试过程的控制要求,PLC设备需要采用特定的操作模式。在整个系统设计中,各种硬件在电信号的传输上都有共同点,因此本系统设计选用西门子PLC设备,主机型号为fx3n-65mr,完成PLC设备的选型。

2 基于PLC的电子装备自动测试系统软件设计

2.1构建电子装备自动测试系统数据库

在数据库平台中,以ODBC连接的方式,建立自动测试过程中的数据库表,实际构建时选择系统中是SignalTest数据库,选择ODBC中的用户DSN创建,将SignalTest数据表显示出来。其次定义Access2012系统中相应的类,将SignalTest数据表指针建立出来,选取其中的CDATASET类,使SignalTest数据表中的每个数据与其相呼应,创立一个具体对象m_dataset,在数据的关联下,那么其在类中可表示为(CDATASET*)m_pest。

根据指针的位置指向,由于(CDATASET*)m_pest始终指向SignalTest数据表中的某一个数据信号,为使电信号特征参数值与SignalTest数据表存在一定联系,可以用指针控制数据库中的数据改变情况,从而完成对电子装备自动测试系统数据库的构建。

2.2基于PLC的电子设备自动测试系统设计

I/O软件可以处理计算机与西门子PLC之间的信号通信问题,使两者之间的命令和数据能够正常传输。在系统编程时,I/O软件中的函数库可以用visa库来命名。Visa库定义了测试过程中的相关规范,并能将PLC与计算机上的I/O软件连接起来,使PLC能得到计算机的有效控制,更好地实现电子设备的自动测试。测试主要调用PLC端口的功能,利用计算机上的I/O软件处理visa库的功能。

PLC设备由I/O软件控制,电子设备由励磁源模块激励自动测试,各模块协调解决问题,达到设计要求。基于PLC,实现了电子设备自动测试系统的设计。

3 实验研究

3.1实验准备

为了研究基于PLC的电子设备自动测试系统的设计与传统方法的区别,以电子设备的测试时间为评价指标。以基于PLC的电子设备自动测试系统为实验组,以传统方法为实验控制组。选择两台配置相同的计算机作为实验设备。将130台电子设备的基本信息输入两台计算机设备,以相同数量的电子设备为实验对象。通过设置参数,将虚拟设备中的电子设备设置为长宽高2.5m的立方体,重量设置为10kg。在测试过程中,在两台计算机上随机测试一定数量的电子设备,采用两种方法完成电子设备的自动测试,从而研究两种方法对电子设备的测试时间。

3.2实验结果

为了验证基于PLC的电子装备自动测试系统在测试时间上的优势,在计算机上对电子装备随机测试,所得的测试结果如下表1与表2所示。

由上表1和表2可知,在电子装备总数相同的情况下,编号4所抽取的测试数最多,为125个,此时基于PLC的电子装备自动测试系统所用的时间为12s,传统方法所用的时间为18s,传统方法比基于PLC的设计方法多用了3s;编号2所抽取的测试数最少,为120个,此时基于PLC的电子装备自动测试系统所用的时间为8s,传统方法所用的时间为16s,传统方法比基于PLC的设计方法多用了8s。综上所述,传统方法在测试电子装备时所花费的时间更多。

结论

通用自动测试系统在识别和预测电子设备故障、提供故障诊断和维修信息等方面发挥着重要作用。通过对通用自动测试系统软硬件体系结构和关键技术的研究与开发,为下一步自动测试系统功能的丰富和效率的提高提供技术支持,有效提升我国通用自动测试技术的综合实力。

参考文献:

[1]夏磊,郭荣斌,宋斌,等.电子装备综合自动测试系统发展现状与展望[J].航空工程進展,2018(s1).

[2]梁嘉倩,孟升卫,鲁文帅,等.面向复杂混合信号的CPCI专用测试系统及其自动校准方法[J].中国电子科学研究院学报,2017,12(2):187–192.

作者简介:

刘建梅(1990—),女,河北唐山人,硕士,工程师,主要研究方向:航空航天地面保障装备电子设备维修与研发。

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